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晶圓封裝測試 封裝測試 測試儀錶 量測電錶 測試儀器 測試電錶 IC製程微縮速度加快,晶片整合能力提高,IC功能的複雜度提高。對於IC測試業而言,機會來自測試費用將隨IC複雜度的提高而升高,1998年測試業研發費用佔營業額的比重為5.3%,1999年我國測試業國內市場比重,委外訂單不管晶圓測試或成品測試都大幅成長所致。日本市場受到記憶體測試價格前三季…雷射速度/範圍/高度量測分析儀器 光纖量測分析儀器 自動化測試機 電性規格是否符合待測IC要求 自動化測試機(ATE)的另一要素就是儀器的電性規格是否能符合待測IC的要求,尤其是在新的半導體產品,對自動化測試機(ATE)規格的要求也愈趨嚴格。測試機要能送出精確的差動邏輯信號,MPEG 分析儀, 產生器& 監視器 光電測試儀器. 高頻電波隔離室. 晶圓測試,IC測試,IC封裝測試,自動化測試量測,ATE,測試儀器設備,測試代工,IC封測 安規測試
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